Revue des méthodes les plus classiques utilisées pour la détection et la localisation de défauts sur un processus : défaillances de capteurs, d'actionneurs, ou du procédé : approches mathématiques et probabilistes, application au criblage. ©Electre 2024
Paru le : 15/06/2000
Thématique : Mathématiques Appliquées
Auteur(s) : Auteur : Didier Maquin Auteur : José Ragot
Éditeur(s) :
Lavoisier-Hermès
Collection(s) : Pédagogique d'automatique
Série(s) : Non précisé.
ISBN : Non précisé.
EAN13 : 9782746201330
Reliure : Broché
Pages : 160
Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm
Épaisseur: 0.7 cm
Poids: 250 g
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