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Epreuves corrigées d'examens et de partiels : filières du DEUG A (MIAS, SM), 2e année


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Résumé

Sujets d'épreuves corrigées de partiels et d'examens mathématiques proposés au DEUG dans diverses universités françaises, ces dernières années, en algèbre, analyse et géométrie. ©Electre 2020

Fiche Technique

Paru le : 17/09/1999

Thématique : Mathématiques Appliquées

Auteur(s) : Non précisé.

Éditeur(s) : Ellipses

Collection(s) : Les sujets de mathématiques du DEUG

Contributeur(s) : Directeur de publication : Pierre Dèbes - Directeur de publication : Jean-Claude de Paris - Directeur de publication : Bruno Deschamps

Série(s) : Non précisé.

ISBN : Non précisé.

EAN13 : 9782729859770

Format : Non précisé.

Reliure : Broché

Pages : 189

Hauteur : 24 cm / Largeur : 17 cm

Épaisseur : 1,2 cm

Poids : 355 g