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Caractérisation microstructurale des matériaux : analyse par les rayonnements X et électronique

Auteur : Claude Esnouf

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Résumé

Présentation pédagogique et exhaustive de l'ensemble des bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matérieux utilisant les rayonnements X et électroniques, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant de grands instruments scientifiques. ©Electre 2025

Fiche Technique

Paru le : 01/09/2011

Thématique : Physique générale

Auteur(s) : Auteur : Claude Esnouf

Éditeur(s) : Presses polytechniques et universitaires romandes

Collection(s) : Metis LyonTech

Série(s) : Non précisé.

ISBN : 978-2-88074-884-5

EAN13 : 9782880748845

Reliure : Broché

Pages : XVI-579

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm


Épaisseur: 3.0 cm

Poids: 1190 g