Décrit les principales méthodes de caractérisation micro-structurale des matériaux fondées sur l'utilisation des rayons X ou des faisceaux d'électrons ou de neutrons. Tout en abordant les questions d'analyse chimique, met l'accent sur l'étude des micro-structures aux échelles allant des distances interatomiques à quelques micromètres. ©Electre 2024
Paru le : 11/02/1998
Thématique : Physique générale
Auteur(s) : Auteur : Jean-Luc Martin Auteur : Armand George
Éditeur(s) :
Presses polytechniques et universitaires romandes
Collection(s) : Non précisé.
Série(s) : Traité des matériaux
ISBN : Non précisé.
EAN13 : 9782880743642
Reliure : Broché
Pages : 367
Hauteur: 25.0 cm / Largeur 17.0 cm
Épaisseur: 2.6 cm
Poids: 1501 g
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