Traite notamment du rôle et de l'évolution des systèmes de mesure électronique, des techniques récentes de diagnostic de systèmes et le rôle de l'instrumentation, de l'étude de la distribution de densité électronique dans un cristal à partir des mesures de diffraction X haute résolution... ©Electre 2024
Paru le : 18/11/1998
Thématique : Electronique
Auteur(s) : Non précisé.
Éditeur(s) :
Société française de génie des procédés
Collection(s) : Récents progrès en génie des procédés
Contributeur(s) : Directeur de publication : Marie-Noëlle Pons
Série(s) : Non précisé.
ISBN : Non précisé.
EAN13 : 9782910239343
Reliure : Broché
Pages : 307
Hauteur: 30.0 cm / Largeur 21.0 cm
Poids: 860 g
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