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Méthodes et modèles en statistiques non paramétriques. Vol. 1. Exposé fondamental

Auteur : Philippe Capéraà

Auteur : Bernard Van Cutsem

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Résumé

Les statistiques d'ordre et leurs utilisations, les tests de rang et leurs applications dans la comparaison de plusieurs traitements. Dans chacun de ces domaine, les auteurs se sont attachés à résumer les connaissances anciennes et à présenter les résultats plus récents. ©Electre 2025

Fiche Technique

Paru le : 01/01/1988

Thématique : Mathématiques Appliquées

Auteur(s) : Auteur : Philippe Capéraà Auteur : Bernard Van Cutsem

Éditeur(s) : Dunod
Presses de l'Université Laval

Collection(s) : Non précisé.

Série(s) : Méthodes et modèles en statistiques non paramétriques

ISBN : Non précisé.

EAN13 : 9782040165437

Reliure : Broché

Pages : 358

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm


Épaisseur: 1.8 cm

Poids: 396 g