Présentation d'une méthode d'analyse des matériaux par diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de ses applications en sciences des matériaux. Détail de l'analyse cristallographique des échantillons polycristallins qui peuvent être monophasés ou constitués de l'assemblage de cristaux de différentes phases cristallines. ©Electre 2025

Fiche Technique

Paru le : 08/09/2006

Thématique : Chimie générale

Auteur(s) : Auteur : René Guinebretière

Éditeur(s) : Lavoisier-Hermès

Collection(s) : Non précisé.

Série(s) : Non précisé.

ISBN : Non précisé.

EAN13 : 9782746212381

Reliure : Broché

Pages : 361

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm

Épaisseur: 1.8 cm

Poids: 530 g