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Analyse et caractérisation des couplages substrat et de la connectique dans les circuits 3D ; vers des modèles compacts

Auteur : Fengyuan Sun

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Résumé

Etude de l'intégration 3D. Ce travail fournit des modélisations de substrats couplés avec leur connectique interne et a pour objectif de permettre la gestion et l'optimisation de partitionnement entre les différents circuits et composants. ©Electre 2025

Fiche Technique

Paru le : 13/09/2016

Thématique : Mécanique

Auteur(s) : Auteur : Fengyuan Sun

Éditeur(s) : Connaissances et savoirs

Collection(s) : Sciences

Série(s) : Non précisé.

ISBN : 978-2-7539-0329-6

EAN13 : 9782753903296

Reliure : Broché

Pages : 175

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 17.0 cm


Épaisseur: 1.0 cm

Poids: 220 g