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Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED. Vol. 2

Auteur : Raphaël Baillot

Auteur : Yannick Deshayes

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Résumé

Le point sur les technologies LED à base de GaN et sur l'identification des phénomènes de dégradation. Les auteurs présentent les outils et les analyses mises en oeuvre dans les études et les applications des dispositifs, ainsi que les mécanismes de défaillance. ©Electre 2025

Fiche Technique

Paru le : 26/06/2017

Thématique : Electronique

Auteur(s) : Auteur : Raphaël Baillot Auteur : Yannick Deshayes

Éditeur(s) : Iste éditions

Collection(s) : Electronique

Série(s) : Méthodologies d'analyse de la fiabilité de dispositifs à LED

ISBN : 978-1-78405-279-9

EAN13 : 9781784052799

Reliure : Broché

Pages : 236

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm


Poids: 0 g