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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée

Auteur : Pierre Richard Dahoo

Auteur : Philippe Pougnet

Auteur : Abdelkhalak El Hami

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Résumé

Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit sont plus particulièrement traitées. ©Electre 2025

Fiche Technique

Paru le : 27/07/2016

Thématique : Physique générale

Auteur(s) : Auteur : Pierre Richard Dahoo Auteur : Philippe Pougnet Auteur : Abdelkhalak El Hami

Éditeur(s) : Iste éditions

Collection(s) : Génie mécanique et mécanique des solides

Série(s) : Non précisé.

ISBN : 978-1-78405-165-5

EAN13 : 9781784051655

Reliure : Broché

Pages : 289

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm


Poids: 0 g