Chargement...
Chargement...
  1. Auteur
  2. El Hami, Abdelkhalak

Livres Abdelkhalak El Hami

Auteur

Support

Série

Disponibilité

1
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
Auteur : Pierre Richard Dahoo
Éditeur(s) : Iste éditions
Etude de la détection de défauts de matériaux par la lumière polarisée et description des méthodes issues de la recherche fondamentale sur les matériaux innovants. Les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde permettant de caractériser les défauts des matéria...
43,26 €
Chargement...
Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 1. Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes
Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 1. Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes
Auteur : Pierre Richard Dahoo
Éditeur(s) : Iste éditions
Présentation des méthodes expérimentales permettant de développer et caractériser des matériaux à l'échelle nanométrique. L'ouvrage traite également des matériaux intelligents par le couplage électromécanique des piézoélectriques en se focalisant sur la réduction des...
78,07 €
Chargement...
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation
Éditeur(s) : Iste éditions
Une présentation des avancées de la recherche et de l'industrie appliquées aux domaine des systèmes mécatroniques qui intègrent la fiabilité dans le processus de conception. Des exemples détaillés permettent d'appréhender une méthodologie de caractérisation des défau...
74,91 €
Chargement...
Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
Auteur : Pierre Richard Dahoo
Éditeur(s) : Iste éditions
Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'inte...
78,07 €
Chargement...
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 2. Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation
Éditeur(s) : Iste éditions
Une présentation des avancées de la recherche et de l'industrie appliquées aux domaine des systèmes mécatroniques qui intègrent la fiabilité dans le processus de conception. Des exemples détaillés permettent d'appréhender une méthodologie de caractérisation des défau...
51,70 €
Chargement...
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes
Éditeur(s) : Iste éditions
Deux approches sont mises en perspective : l'approche statistique d'optimisation de la conception par la fiabilité et l'approche expérimentale pour la caractérisation de l'évolution des systèmes mécatroniques en mode de fonctionnement. Elles sont complétées par une a...
74,91 €
Chargement...
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes
Les systèmes mécatroniques embarqués. Vol. 1. Analyse des causes de défaillances, fiabilité et contraintes
Éditeur(s) : Iste éditions
Deux approches sont mises en perspective : l'approche statistique d'optimisation de la conception par la fiabilité et l'approche expérimentale pour la caractérisation de l'évolution des systèmes mécatroniques en mode de fonctionnement. Elles sont complétées par une a...
51,70 €
Chargement...
1