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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 1. Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes

Auteur : Pierre Richard Dahoo

Auteur : Philippe Pougnet

Auteur : Abdelkhalak El Hami

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Résumé

Présentation des méthodes expérimentales permettant de développer et caractériser des matériaux à l'échelle nanométrique. L'ouvrage traite également des matériaux intelligents par le couplage électromécanique des piézoélectriques en se focalisant sur la réduction des échelles et sur les applications électromécaniques. ©Electre 2024

Fiche Technique

ISBN : 978-1-78405-793-0

EAN13 : 9781784057930

Reliure : Broché

Pages : 214

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm


Poids: 0 g