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Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Vol. 2. Systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste

Auteur : Pierre Richard Dahoo

Auteur : Philippe Pougnet

Auteur : Abdelkhalak El Hami

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Résumé

Présentation des connaissances de base pour les applications industrielles dans le domaine de l'ingénierie quantique et des nanotechnologies. Les auteurs étudient les systèmes optiques pour la mesure à l'échelle nanométrique et les modèles quantiques décrivant l'interaction d'un système à deux niveaux dans son environnement. ©Electre 2024

Fiche Technique

ISBN : 978-1-78405-794-7

EAN13 : 9781784057947

Reliure : Broché

Pages : 232

Hauteur: 24.0 cm / Largeur 16.0 cm


Poids: 0 g