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Présentation de cette technique et de ses diverses applications dans le monde académique et industriel. ©Electre 2025
Cet ouvrage est destiné à tous les étudiants qui suivent des formations scientifiques ou techniques en relation avec l'étude des matériaux, aux chercheurs, aux ingénieurs et techniciens de laboratoires. Il traite de l'utilisation de la microscopie électronique à balayage sous environnement gazeux (MEB-EG). Cette technique est très répandue aussi bien dans le monde académique qu'industriel. Avec les avancées dans le domaine des matériaux, il devient crucial de pouvoir étudier les matériaux dans des conditions réelles d'utilisation. Le MEB-EG est une technique de choix pour étudier tout type de matériaux et nanomatériaux quel que soit son état : sec, humide, isolant, conducteur...
Cet ouvrage s'articule autour de trois parties. Une première partie concerne le fonctionnement du MEB conventionnel (MEB-C) et ses limites. La seconde partie détaille le fonctionnement du MEB-EG en relation avec la présence du gaz et ses effets. Le contenu de la troisième partie permet à l'expérimentateur de choisir les meilleures conditions pour l'imagerie et pour la microanalyse X dans le MEB-EG.
Cet ouvrage est une référence pour les utilisateurs des MEB environnementaux (ESEM) et à pression variable ou contrôlée (VP-SEM, CP-SEM).
Paru le : 16/05/2017
Thématique : Essais Scientifiques
Auteur(s) : Auteur : Lahcen Khouchaf Auteur : Christian Mathieu
Éditeur(s) :
Ellipses
Collection(s) : Formations & techniques
Série(s) : Non précisé.
ISBN : 978-2-340-01806-8
EAN13 : 9782340018068
Reliure : Broché
Pages : III-230
Hauteur: 24.0 cm / Largeur 19.0 cm
Épaisseur: 1.3 cm
Poids: 460 g